2002/10/28 第48号
エレショー技報             (有)安部実装技術研究所
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  ◇◇◇ インターネプコン・ジャパンにいよいよ出展 ◇◇◇
  
   キルステンリニアジェットウェーブはんだつき装置を展示します。
     是非ご来場ください!
            
     日 時:2003年1月22日(水)〜24日(金)
     場 所:東京ビッグサイト
     出展社:(有)安部実装技術研究所
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内容
■自在成型発泡エラストマー 
■海外技術情報
  「速流速硬型UFを用いる低コストFC実装の信頼性と故障解析」
■求人情報  
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最新の統計によりますと、製品を購入したい場合まずインターネットで検
索する人が8割以上という結果が出ています。
どんなに良いホームページを作成してもアクセスされなければ、意味があり
ません。
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■自在成型発泡エラストマー「ペンギン・フォーム・システム」
                     サンスター技研(株)

専用の機械発泡装置「フォームプライ」を使い、材料にエアを混合させ、
均一に発泡する1液の発泡システムを開発しました。ロボットを使った精
密な湿布、インジェクション成型、発泡充填、注型等が可能です、化学
発泡の課題であった有害ガスの発生が少なく、廃棄物削減や作業環境改
善に貢献する画期的な新工法です。

  詳しくは http://www.eleshow.com/ の5-5-30をご覧ください。
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■海外技術情報 
  「速流速硬型UFを用いる低コストFC実装の信頼性と故障解析」
         
要旨
FC技術は用途を拡大しますます発展している。製造時間の短縮と信頼性
の向上を前提に、新しい材料の開発がこの動きを一層加速する。その一
つが速流速硬(snap-cure)型アンダーフィル(以下迅速UFと略)である。
迅速UFは、UFの流入時間と硬化時間を短縮することでかなり製造コスト
を下げる。特に両面PCBの実装において、裏面のリフローの予熱工程で
硬化できるので有利である。この低コストFC実装プロセスを図1に示し
た。本報では多数の市販されている迅速UFを検討した。温度サイクル
(−55〜125℃)、液熱衝撃(−55〜125℃)試験、レベル3吸湿条件も付加
した試験を行って信頼性と故障解析を行った。第2次リフローを利用し
て硬化した試料と、供給者の推奨条件でオーブン硬化した試料とを比較
した。これらの試験を通じて、市販の迅速UFのいくつかは、硬化方法
(リフローあるいはオーブン)に関係なく1,000サイクルをパスした。
それらのUFは、予めレベル3吸湿条件下におかれていても1,000サイクル
をパスしている。

基準試験試料(バッチ式オーブン使用)              
試料AとBは、ボイドや凝集が見られない。それはフィラーの充てん率が
40%volと低いためであろう。C3、D、Eは60〜70%と高充てんのため凝
集が観察される。図2のより暗い部分が充てん材の凝集した所である。
材料Cでははんだ接合の周囲にボイドが見られる。材料C2では相分離が
起きて、部分的な密度のバラツキが生じている。C3、D、Eにおける指型
の像は、I型およびL型でディスペンスしても解消されなかった。

JSRA吸湿条件付けした基準試料
第2組の標準試料では、レベル3のJSRA吸湿湿度条件付けをして熱衝撃
試験を行った。それは温湿度曝露(30℃、60%、192Hr)を行った後、
リフロー3回のテストである。そこでは、目視による外面クラック、
導通不良、音波顕微鏡での剥離生長などが故障と判定される。
全面エリヤアレーの場合は、材料AとBのみを試験した。Aは合格したが
Bははがれで不合格であった。外辺アレーの場合、C2、C3、E2が合格し
た。全面エリヤアレーデバイスは空気温度サイクルに、外辺アレーデバ
イスは液熱衝撃にかけた。図4にワイブルプロットを、表2に特性寿命
を示した。

序 文
はんだ接合不良は、不足による断線から過剰による短絡まで多様に変化
する。電気検査はこの両極端の不良を捕える良い方法ではあるが、多く
の欠陥がこの方法では検出できない。自動化されたX線検査がこの隙間
を埋め
る。

なぜ心配なのか。
IPCやJEDECのような組織が、許容限度についての規格を設定している。多
くの企業は社内での信頼性研究から、社内の許容限度規格を持っている。
これらの許容限度基準は、電気的な接続だけでなく許容できるはんだの形
状まで規定している。はんだの形状は接合部の品質指標になるので大切で
ある。はんだ接合部は、出荷時のみならず、予定寿命の間は無傷でなけれ
ばならない。
IPC A610は"平リボンLおよびガルウィングリード"に対して7種の特性を規
定している。それらは最大側面張出し、最大つま先張出し、最小末端接合
幅、最小末端接合長さ、最大および最小ヒールフィレット高さ、最小厚さ
である。これらの特性ははんだ接合の信頼性に需要な役割を果たしている。
基準を満たしていない接合は、出荷後フィールド故障を起こす可能性が高い。

潜在的欠陥の検出
基準の適用は作業者や技術者毎に異なっている。多くのタイプの接合では、
はんだ付部がリードにより隠されている。顕微鏡と鏡とち密な作業が、ヒ
ールフィレットの検査上要求される。BGAやCSPのようなタイプの接合では、
目視では全く検査が出来ない。
検査手段を持たない表面実装プロセスでは、フィールド故障を起こして基
板が戻ってきた時、接合の品質不足を見出すであろう。こうした欠陥を作
らないようSMTプロセスを設計したと我々は信じているが、自動X線検査機
(AXI:Automated X-ray Inspection)を持つ人達はそれが誤りであると気
付いている。

問題の規模
最近Agilent Tech.社は、いくつかの会社の数ヶ月にわたるAXIによる研究
データを解析した。そのデータは、AXIで見出され、修理作業者によって確
認された欠陥だけを取り上げており、北米と欧州の15の基板実装業者から
の生産データを代表する。
図1にその解析の結果を示す。驚きべきことに欠陥の25%が通常の電気検査
では検出されないものであった。それらは電気的には接続しているが、最
適でない品質のはんだ接合である。これら品質不足のはんだ接合はもし出
荷されれば真っ先にフィールドで故障する候補である。AXIのお蔭で、それ
らは出荷前に検出され、修理された。

より詳しくは、www.eleshow.com/ の海外技術情報2002.10.30号をご覧下
さい。詳しく書いてあります。
また、全文をお読みになりたい方は、「2000海外FC/CSP/BGA実装技術情報」
をお求めください。
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■求人情報              (有)安部実装技術研究所

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 発行:(有)安部実装技術研究所 編集長:安部 可伸
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